N° 387-388-389 juil.-août-sept.-oct. 2014

Identifier les pigments et comprendre leurs propriétés à partir de la diffraction des rayons X

Pagination : 170-174
Sous-thème : Quelques apports de la cristallographie
Mots-clés : Cristallographie, patrimoine, pigments, analyse, diffraction des rayons X.
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Carte de densité électronique indiquant la présence de molécules d’indigo (en vert) dans les tunnels d’une zéolithe type MFI.
Données enregistrées sur la ligne CRG BM2 de l’ESRF.

Grâce à leurs performances analytiques, on observe un intérêt croissant pour l’utilisation des installations en rayonnement synchrotron et de certains appareils portables employant des sources de rayons X afin d’analyser, de révéler et de conserver les matériaux des objets du patrimoine.

La diffraction des rayons X va ainsi permettre de révéler la complexité de la nature des pigments utilisés par les artistes : c’est par la structure de la matière cristalline que l’on peut comprendre certaines de leurs propriétés optiques et mécaniques ainsi que leurs modes de synthèse.