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La diffraction des rayons X sur des échantillons polycristallins : quels instruments pour quelles mesures ?

Article paru dans l'Actualité Chimique N°387-388-389 - juil.-août-sept.-oct. 2014
Rédigé par Guinebretière René

La diffraction des rayons~X par les cristaux est un phénomène physique qui est depuis un siècle au centre des études de cristallographie. Lorsqu’il s’agit de la diffraction simultanée d’un grand nombre de cristaux, on parle de diffraction sur échantillons polycristallins. Cette méthode est l’une des plus utilisée, en particulier pour caractériser les matériaux. Ceux-ci sont toutefois très divers~: pulvérulents ou compacts, en couches minces ou massifs. De plus, la nature des informations recherchées est très variable.

La conception des diffractomètres résulte nécessairement de l’optimisation de certains compromis, et pour chaque type de mesure, il convient de choisir la configuration adaptée. Le propos de cet article est de donner les principaux éléments de ce choix.

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