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La microstructure 3D des matériaux polycristallins vue sous la lumière synchrotron

Les techniques d’imagerie et de diffraction au rayonnement synchrotron offrent de nouvelles possibilités pour la caractérisation tridimensionnelle et non destructive des matériaux polycristallins. De faibles variations de densité électronique (phases secondaires, fissures, porosités) peuvent êtres détectées grâce à des modes d’imagerie qui exploitent la diffraction de Fresnel ainsi que la cohérence des faisceaux issus des sources synchrotron de troisième génération.

La tomographie par contraste de diffraction, autre technique d’imagerie 3D basée sur la diffraction de Bragg, donne accès à la forme, l’orientation et l’état de déformation élastique des grains dans des volumes polycristallins contenant jusqu’à mille grains.

La combinaison de ces deux modes d’imagerie permet de caractériser des matériaux polycristallins à l’échelle du micron. Des observations répétées lors d’essais mécaniques (interrompus) permettent d’analyser le rôle de la cristallographie locale sur les mécanismes de déformation et de dégradation dans des matériaux polycristallins, respectant certaines conditions sur la taille de grains, et/ou leur état de déformation.

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