Spectromicroscopie X in situ de l'interface électrochimique

Le rayonnement synchrotron offre la possibilité d’imager in situ, dans le spectre~X et à l’échelle submicronique, des interfaces solide-liquide et d’accéder ainsi à des informations structurales et morphologiques dynamiques sur des matériaux complexes tels que les électrodes.

Cet article présente une technique d’analyse chimique et d’imagerie in situ à l’échelle submicronique de processus réactionnels à l’interface électrochimique, échelle difficilement accessible par les spectroscopies actuelles.